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本课程针对芯片的功能安全从业者,提供标准详细解读和实战指导,帮助解决在芯片功能安全实施过程中遇到的问题,同时更系统化的理解标准。面向对象:汽车芯片、半导体功能安全相关人员 1 年以上功能安全行业经验
知道并理解基本原理、概念和芯片功能安全管理的目标
能够有效地利用您的专业知识和 ISO 26262 所要求的方法来解决问题
能够使用广泛的方法和工具,以及产品和过程监控的方法。
功能安全、ISO26262和芯片基础背景介绍
1. 功能安全和ISO 26262的概览
2. 芯片功能安全基础介绍
3. 芯片功能安全与整车和ECU级功能安全关系
芯片功能安全的开发设计
1. 芯片SEOOC的概述
2. 芯片的失效分析概述
3. 芯片级功能安全机制的设计
4. 芯片的功能安全AoU
芯片功能安全设计案例介绍
1. 常见的半导体功能安全设计案例介绍 – MCU
2. 常见的半导体功能安全设计案例介绍 – SOC
3. 常见的半导体功能安全设计案例介绍 – PMIC
4. 常见的半导体功能安全设计案例介绍 - SWITCH
芯片随机失效量化分析基础介绍
1. 随机失效和FMEDA基础介绍
2. 芯片随机失效量化分析-SN29500介绍
3. 芯片随机失效量化分析-IEC62380和IEC61709介绍
4. 芯片随机失效量化分析-JESD89A介绍
芯片随机失效量化分析实例介绍
1. 芯片FMEDA案例讲解
六、芯片配套的软件的功能安全开发与设计
1. 软件功能安全基础介绍
2. 芯片驱动的功能安全-e.g. Safety MCAL开发
3. 芯片配套的安全包-e.g. Safety Lib开发
4. 芯片配套的软件工具的安全
七、常见的芯片功能安全开发问题
1. 芯片网络安全与功能安全设计的交互和冲突
2. 芯片使用时常见的功能安全问题
3. 功能安全、可靠性、可用性、完整性
问答&自由讨论
功能安全、ISO26262和芯片基础背景介绍
芯片功能安全的开发设计
芯片功能安全设计案例介绍
芯片随机失效量化分析基础介绍
芯片随机失效量化分析实例介绍
六、芯片配套的软件的功能安全开发与设计
七、常见的芯片功能安全开发问题